測量離型膜上的硅涂布量是生產過程中質量控制的一個重要方面。如果涂覆的硅太少，則粘合層將永久地粘在基底上，而涂覆過多則會增加生產成本，且不會進一步提高產品質量。為了控制硅涂層厚度，行業通常使用臺式X射線熒光(XRF)分析儀，例如，日立LAB-X5000，因為這些分析儀可提供經濟、高效、可靠的無損分析。使用這些分析儀，操作員可快速調整生產過程，并有助于降低材料成本，同時最大限度地提高產量。
LAB-X5000的五大優勢：
1、方便：一次校準即可適用于所有紙張類型
使用LAB-X5000，可將玻璃紙校準用于其他紙張類型，包括粘土涂層紙張，而不會有損精確度。在用標準玻璃紙進行單次校準后，當移動到新的紙張類型(或新的紙卷)時，您只需測量新類型紙張的無涂層“空白”。測量涂層樣品以及對新基底進行自動補償時，XRF設備使用這一測量值作為“校正因子”。
2、具有成本效益：無需氦氣
XRF設備通常使用氦氣來確保測量硅(Si)等輕元素的穩定性。LAB-X5000包含智能功能，可自動補償大氣溫度和壓力的變化(否則會影響結果)，并提供可靠結果，完全不需要氦氣。這意味著獲得、儲存和使用氦氣的成本和困難完全消除。
3、可靠結果：自動針對潛在不均勻涂層表面獲得平均結果
硅層涂覆工藝并非100%完美，并且可能出現涂層紙張上硅厚度的微小變化。此外，XRF分析儀通常只測量紙張樣品上一小部分區域，這種微小變化可能會呈現測試結果的差異。LAB-X5000配備有樣品自旋器，該自旋器在X射線管和探測器上方旋轉樣品，以測試更寬的區域并獲得平均讀數。無論樣品在分析儀中的位置如何，操作員都能就該樣品獲得相同的結果。
4、專用設計：堅固、快速且易于使用
本設備尺寸小巧，可以安裝在工作臺上，并且堅固耐用，能夠承受典型的生產環境，從而最大限度地延長正常運行時間。最少的操作員培訓：只需使用所提供的盤形銑刀即可制備樣品。操作員只需將紙盤放入支架中，并將支架放入分析儀，然后按下啟動按鈕。屏幕上會在數秒內顯示初始結果。此外，也可以顯示合格和不合格消息，從而消除了操作員解釋結果的需要。測量完成后，設備發出蜂鳴聲，提醒操作員設備已準備好測量下一份樣品。
5、強大的數據管理
LAB-X5000能夠儲存最多100,000條測量結果(以及相關光譜)。您可以在集成打印機上打印結果，或者將結果傳輸到USB存儲裝置。此外，還可以通過Wi-Fi將結果自動傳輸到我們的ExOpe
Connect云服務，并通過任何計算機實時管理數據。無需靠近分析儀即可查看結果，并創建和共享結果。甚至可以通過一個云賬戶訪問來自多個日立分析儀的數據，從而全面了解您的測試操作。
LAB-X5000使得離型膜行業能夠執行精確、快速吞吐量和低成本的測試，使生產商在保持利潤率的同時更容易滿足產品規格。
